Report date: Nov 6,2024
Conflict count: 361874
Publisher: Editions Techniques de l Ingenieur
Title count: 38
Conflict count: 95


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Created: 2024-07-02 10:04:09
ConfID: 7364727
CauseID: 1636076981
OtherID: 1554223278
JT: Mesures et tests électroniques
MD: VALENZA,,,,2006,Bruit de fond et mesures - Aspects théoriques
DOI: 10.51257/a-v2-r310(Journal) (7364727-N)
DOI: 10.51257/a-v1-r310(Journal)
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Created: 2024-07-02 08:20:11
ConfID: 7364716
CauseID: 1636063738
OtherID: 1554223278
JT: Mesures et tests électroniques
MD: POULICHET,,,,2009,Mesure des composants électroniques - Partie 3 : mesure des composants actifs
DOI: 10.51257/a-v4-r1080(Journal) (7364716-N)
DOI: 10.51257/a-v3-r1080(Journal)
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Created: 2024-07-02 08:32:09
ConfID: 7364717
CauseID: 1636066919
OtherID: 1554223278
JT: Mesures et tests électroniques
MD: ROGER,,,,2001,Mesures radioélectriques sur les antennes
DOI: 10.51257/a-v3-r1140(Journal) (7364717-N)
DOI: 10.51257/a-v2-r1140(Journal)
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Created: 2024-07-09 06:38:11
ConfID: 7370431
CauseID: 1636965060
OtherID: 1554223278
JT: Mesures et tests électroniques
MD: ACHKAR,,,,2006,Analyseurs de réseaux en micro-ondes
DOI: 10.51257/a-v2-r1145(Journal) (7370431-N)
DOI: 10.51257/a-v1-r1145(Journal)